高精度測量系統

光學和觸覺測量技術,用于超精密測量,直到皮米范圍。

SOS提供了廣泛的精密測量系統和激光干涉測量裝置。發現我們的產品組合,以衡量 長度、角度、振動、直線度、溫度、力等測量指標,分辨率最高,測量不確定性較低  在下面。

我們的高精度測量系統用于納米測量、機械工程、光學和半導體工業、校準、質量控制、材料管理、醫學技術和地球科學以及工業和科學領域的研究與發展。

科學和工業界都相信SISOS的高精度測量系統.

長度測量系統 模塊激光干涉儀

1、激光干涉儀SP5000

高精度長度測量用激光干涉測量系統

最高精度的彈性長度測量系統

集成光束方向檢測便于處理和調整

可使用各種光學反射器,例如:三層鏡、球形鏡、平面鏡

允許測量反射器的傾斜度最高不超過15.

緊湊穩健的設計

帶防飛濺水的傳感器外殼

鋁、不銹鋼或因瓦的傳感器頭設計

可追溯到政府標準

OEM版本,OEM軟件和真空版本是可能的

可選擇接口的擴展應用范圍

廣泛觸發選項

高精度和可靠的結果對于 長度測量和校準 在引導、測量、顯微鏡和定位階段,坐標測量機器和機床,以及多坐標測量。我們的普遍性 激光干涉儀SP5000納克 是高精度長度測量的解決方案,可以在任何時候使用產品系列中的其他組件來完成新的測量項目。

契約書 SP5000納克干涉儀其特點是操作簡單,調整又快又簡單.它在不同的環境和操作條件下提供了非常精確的測量結果。在內置傳感器的幫助下,干涉儀的對準簡單、快速和非常精確。因此,可以避免由于傳感器定位錯誤而引起的錯誤.精密干涉儀也可作為真空版。

激光干涉儀的設計既緊湊又堅固,其外殼是防噴濺的,而且可以對光纖電纜進行護套以保護其免受機械損傷。

適用領域

用于測量、顯微鏡和定位級、測量和機床、硬度和材料測試設備的激光干涉精密長度測量系統

多坐標測量,例如平面桌上

校正線性編碼器

沖擊和跳出測量

2、長程激光干涉儀p15000

用于長距離高精度測量的激光干涉測量系統

最高精度的彈性長度測量系統

高度精確的長距離測量

易于調整和處理

測量范圍可達80米

緊湊型設計

廣泛觸發選項

Windows和Linux下OEM軟件的開放接口

SP15000納克遠程激光干涉儀 專門為 長距離測量長度 不斷地建立在 SP5000納克 產品家庭。傳感器頭具有額外的光學,可以優化地將激光束適應于大的測量長度。

大型坐標測量機和機床、長線性軸和校準距離是這種精密線性編碼器的主要應用。在測量過程中,室內或測量位置的溫度分布對測量結果的正確性起著決定性的作用。因此,我們建議將干涉儀與我們的LCS精密氣候測量站結合起來,用于高精度的應用。

適用領域

用于測量、顯微鏡和定位級、測量和機床、硬度和材料測試設備的激光干涉精密長度測量系統

多坐標測量,例如飛機桌

校正線性編碼器

3、差動激光干涉儀SP5000Di

咨詢電話：13522079385

具有兩個平行測量光束的高穩定性微分激光干涉儀

最高精度的差幅長度或角測量

通過差別測量盡量減少環境影響

熱長期穩定傳感器,溫度靈敏度&20納米/k

可使用各種光學反射器,例如:球形、平面反射鏡

測量反射器的大傾斜不變性

不銹鋼傳感器頭設計作為標準

波束距離:21毫米

廣泛觸發選項

Windows和Linux下OEM軟件的開放接口

我們的超穩定差 SP5000迪激光干涉儀 具有獨特的熱穩定性,因此在研究和開發中更適合長期測量。用于分析材料的性能。

與之形成對比的是 標準干涉儀 在差速器版本中,參考光束被引導出傳感器頭,并與測量光束平行運行。這一概念允許傳感器與實際測量位置的距離更大,而不會嚴重影響測量的分辨率或穩定性。該干涉儀的長度分辨率在亞納米范圍內,由于差動原理,即使在正常實驗室條件下,也可以達到類似的測量或光束長度。

如果使用傾斜不變反射器進行測量,長度測量的測量范圍可以是幾米。干涉測量系統具有模塊化設計,因此可以適應各自的測量任務。

調整是簡單的,特別是可以實現長期穩定。擴展到基于 SP5000Di 干涉儀允許同時多坐標測量。

適用領域

差動激光干涉儀可作為OEM版安裝為機器軸編碼器。對于真空測量,SP5000Di是一個真空優化版本。

標準光束距離為21毫米。我們根據要求提供其他光束距離。