1、日本電子株式會社JEOL離子束拋光機JIB-4000PLUS
產品介紹
JIB-4000PLUS 聚焦離子束加工觀察系統配置了高性能的離子鏡筒(單束FIB裝置)。 被加速的鎵離子束經聚焦照射樣品后，能對樣品表面進行SIM觀察 、研磨、及碳和鎢等沉積。還可以為TEM制備薄膜樣品，為觀察樣品內部制備截面樣品。 該設備能配置3D觀察功能、自動TEM樣品制備功能，能對應多種制樣需求。
高性能FIB鏡筒
JIB-4000PLUS采用高性能的FIB鏡筒，最大離子束流高達 60 nA，可以擴展到90nA大束流（為可選件），能進行快速研磨。大電流下的快速加工尤其適合于大面積的研磨，100 μｍ以上的大截面也可以在短時間內制成。
用戶友好的FIB裝置
JIB-4000PLUS高性能的 FIB鏡筒具有出色的可操作性，外觀和GUI設計都很友好。 即使沒用過FIB也能夠輕松操作； 此外，該裝置小巧緊湊為業界最小體積，安裝場所的選擇范圍很大。
雙樣品臺
JIB-4000PLUS標配的塊狀樣品馬達驅動樣品臺可供塊狀樣品使用，此外還可以增配側插式測角臺（TEM用Tip-on 樣品架可以直接插入）。側插式測角臺與JEOL的TEM系統通用，這樣，FIB加工和TEM觀察的反復交替就能很容易地進行。
3D觀察功能
為了進行3D觀察，設備標配連續切片截面觀察功能。JIB-4000PLUS雖然是單束FIB，但是可以通過SIM像進行3D觀察。用3D重構軟件，可以將收集到的截面圖像重建為3D圖像，可以從各種角度顯示3D圖像。
自動TEM制樣功能
自動TEM制樣功能 "STEMPLING" 是選配件。有了這個功能，制樣不需要有很高的技能，任何人都能簡單地制樣，也可以對多個樣品自動制樣，提高工作效率。 :
豐富的附件
有各種附件可用來支持JIB-4000的操作。包括對電路修改應用特別有效的CAD導航系統，對特殊形狀加工有效的矢量掃描系統等。通過給JIB-4000安裝適當的附件，該系統可以支持樣品制備以外的應用。
產品規格型號
軸數量 3軸
臥式／立式 通用
應用 用于光學儀器
其他特性 緊湊型, 高性能, 高速, 離子束, 銑刀, 大功率
X軸 11 mm(0 in)
Y軸 15 mm(1 in)
Z軸 最多: 23 mm(1 in)；最少: 1 mm(0 in)
2、日本電子株式會社JEOL離子束拋光機IB-19520CCP
產品介紹
IB-19520CCP在加工過程中利用液氮冷卻，能減輕離子束對樣品造成的熱損傷。冷卻持續時間長、液氮消耗少的構造設計。在裝有液氮的情況下，也能將樣品快速冷卻、恢復到室溫，并且可以拆卸。配有傳送機構，在隔離空氣的環境下能完成從加工到觀察的全過程。
冷卻的效果 樣品：鍍鋅鋼板
可提供500μm/h（8KV/2小時的平均值）的研磨速率。
★ 進程監控功能
截面加工狀態可通過CCD相機實時監控，倍率還可調整。
★ 防止充放電的噴鍍功能
備有離子束濺射功能（選配項）
可以噴涂顆粒感良好的薄涂層。
最適合于象EBSD等需要花樣識別等情況。
★ 平面離子減薄樣品架
以小角度的離子束低角度照射樣品，達到清除表面污垢、平滑表面等效果。
另外也非常適合于選擇性蝕刻。
★ 截面樣品制備單元
安裝在平面離子減薄樣品架上使用。該單元可用于在旋轉樣品的同時進行離子束加工。
可以用來制備象多孔質材料、粉末、纖維等容易出現加工條紋的樣品的截面。
咨詢電話：13522079385
產品規格型號
加工材料 用于金屬
應用 用于制備試管
其他特性 表面, 平面, 數碼, HSC
作業寬度 500 µm